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FLIR红外热像仪具有锁定、保持和脉冲功能，可执行各种高级检测工作，如：无损测试（NDT）、应力制图，能分辨小至1mK的温差。无损测试（NDT）被广泛应用于在不对被测目标物造成损伤的情况下评估材料、元件或系统的性质。红外热像仪能够通过均匀加热被测物体并观察目标面上的温度差来检测内部缺陷。
热像仪的使用方式，分为独立使用和集成系统两种方式，FLIR科研用热像仪有各个型号来满足您的需求。
独立使用：FLIR T系列红外热像仪
FLIR T1050sc/T800/T500系列等手持式科研级热像仪适合研发过程中，根据需要可灵活移动检测实验过程。
FLIR T系列具备高灵敏度的高清探测器、采用便携灵活设计，是一款由电池供电的手持式非制冷式长波红外热像仪，旨在满足用户对高热灵敏度、快速原始全辐射数据传输、可定制的处理功能。它们的热灵敏度（NETD）< 20mK，高于行业标准两倍以上，高达2000°C的宽测温范围（包括标定）。
其FLIR OSX精密高清红外镜头系统具有超声驱动对焦、环境温度补偿和杂散辐射抑制功能。该系列热像仪采用能进行独立式数据收集和实时辐射分析的系统，内嵌整套工具箱。借助FLIR Thermal Studio软件可以查看、获取、分析和分享数据，大大提高实验成功几率。
集成系统：FLIR A系列红外热像仪
如果实验检测过程需要长期在线监测，无需移动热像仪，比如做老化测试，建议选择FLIR A系列科研用红外热像仪。比如FLIR A400/A500/A700科研套件可为研究人员和工程师提供简化的解决方案，作为在线热像仪，集成到整个实验系统中，搭配FLIR微距模式，可**测得小型组件的红外数据，实时传输保存每帧每个像素点温度数据，进行7*24小时的长期监测。
FLIR A50/A70研发套件是经济实惠的开箱即用型解决方案，适合用于概念验证电子电路检测和研发的热成像分析。通过提供多种测温工具，用户可消除臆测，缩短产品开发时间，提供产品效率和可靠性。
FLIR A6700sc中波红外热像仪系列搭载制冷式锑化铟(InSb)探测器，工作波段为1到5微米，也可选择3-5微米的工作波段，拥有<20 mK的高热灵敏度，能捕捉到细微的图像细节。
FLIR A6750 SLS长波红外热像仪适用于观测高速热事件和快速移动目标，它提供极短积分时间和超过4,000 Hz的窗口帧频，因此能够定格移动对象运动并测得准确的温度值。
此外，FLIR 科研用热像仪还有FLIR X8000sc/X6000sc **制冷中波红外热像仪，其热图像高达1280 x1024像素（FLIR X8580）会显示非常微小的细节并确保出色的测量精度，而快速动态场景也会被***记录，640x512全分辨率时速度高达355 Hz（FLIR X6980），它们可满足科学家和研发专业人员严苛的应用要求。
此外，FLIR 科研用热像仪还有FLIR X8000sc/X6000sc **制冷中波红外热像仪，其热图像高达1280 x1024像素（FLIR X8580）会显示非常微小的细节并确保出色的测量精度，而快速动态场景也会被***记录，640x512全分辨率时速度高达355 Hz（FLIR X6980），它们可满足科学家和研发专业人员严苛的应用要求。
除上述型号外
FLIR还有多款高清科研级高级红外热像仪
小菲就先不一一赘述啦~
选择一款适合自己的热像仪
能让你的实验研发成功率大大提升
